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HAST試驗箱

HAST試驗箱

高加速壽命試驗箱(HAST試驗箱)是(shì)一(yī / yì /yí)種用于(yú)進行高加速應力測試的(de)設備。它主要(yào / yāo)用于(yú)評估電子(zǐ)元器件、電路闆和(hé / huò)其他(tā)電子(zǐ)産品在(zài)惡劣環境條件下的(de)可靠性和(hé / huò)耐久性。

在(zài)線聯系

适應範圍

适用于(yú) PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路闆、磁性材料、高分子(zǐ)材料、EVA、光伏組件及其它電子(zǐ)零件之(zhī)高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業。


測試項目

HAST測試項目主要(yào / yāo)包括:電性能測試、可靠性測試。其中,電性能測試包括電阻、電容、電感等參數的(de)測試;可靠性測試則包括在(zài)高溫高濕條件下的(de)耐壓、絕緣電阻、外觀等項目的(de)測試。


測試範圍

溫度範圍:105~142.9℃

濕度範圍:75%~100%RH

壓力範圍:0.02~0.186Mpa


測試依據

《半導體器件 機械和(hé / huò)氣候試驗方法 第4部分:強加速穩态濕熱試驗(HAST)》 GB/T 4937.4-2012

《高加速濕熱應力試驗》JESD22-A110D-2010

《非氣密固态表面貼裝器件 潮濕/再流焊敏感度分級》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008


試驗照片


  • HAST試驗箱1.jpg

    試驗設備

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